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SN74ABT8652DWR

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विशेष विवरण
  • भाग संख्या
    SN74ABT8652DWR
  • निर्माता / ब्रांड
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • शेयर मात्रा
    स्टॉक में
  • विवरण
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्टेटस
    लीड फ्री / आरओएचएस के अनुरूप
  • वोल्टेज आपूर्ति
    4.5 V ~ 5.5 V
  • प्रदायक डिवाइस पैकेज
    28-SOIC
  • शृंखला
    74ABT
  • पैकेजिंग
    Tape & Reel (TR)
  • पैकेज / प्रकरण
    28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • परिचालन तापमान
    -40°C ~ 85°C
  • बिट्स की संख्या
    8
  • माउन्टिंग का प्रकार
    Surface Mount
  • नमी संवेदनशीलता स्तर (एमएसएल)
    1 (Unlimited)
  • तर्क के प्रकार
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्थिति
    Lead free / RoHS Compliant
  • विस्तृत विवरण
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
  • आधार भाग संख्या
    74ABT8652

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SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

विवरण: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

विवरण: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8996DW

SN74ABT8996DW

विवरण: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8952DLRG4

SN74ABT8952DLRG4

विवरण: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8996PW

SN74ABT8996PW

विवरण: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74ABT8652DLG4

SN74ABT8652DLG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

विवरण: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

विवरण: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8996DWR

SN74ABT8996DWR

विवरण: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DW

SN74ABT8652DW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

विवरण: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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