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SN74BCT8244ADWE4

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विशेष विवरण
  • भाग संख्या
    SN74BCT8244ADWE4
  • निर्माता / ब्रांड
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • शेयर मात्रा
    स्टॉक में
  • विवरण
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्टेटस
    लीड फ्री / आरओएचएस के अनुरूप
  • ईसीएडी मॉडल
  • वोल्टेज आपूर्ति
    4.5 V ~ 5.5 V
  • प्रदायक डिवाइस पैकेज
    24-SOIC
  • शृंखला
    74BCT
  • पैकेजिंग
    Tube
  • पैकेज / प्रकरण
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • परिचालन तापमान
    0°C ~ 70°C
  • बिट्स की संख्या
    8
  • माउन्टिंग का प्रकार
    Surface Mount
  • नमी संवेदनशीलता स्तर (एमएसएल)
    1 (Unlimited)
  • निर्माता मानक लीड टाइम
    6 Weeks
  • तर्क के प्रकार
    Scan Test Device with Buffers
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्थिति
    Lead free / RoHS Compliant
  • विस्तृत विवरण
    Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  • आधार भाग संख्या
    74BCT8244
  • सम्बंधित खबर
  • शिपिंग
  • भुगतान

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SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

विवरण: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
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SN74BCT760N

SN74BCT760N

विवरण: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

विवरण: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
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