इलेक्ट्रॉनिका 2024 में आगंतुकों के लिए

अब अपना समय बुक करें!

यह सब लेता है कि आपकी जगह आरक्षित करने और बूथ टिकट प्राप्त करने के लिए कुछ क्लिक हैं

हॉल C5 बूथ 220

अग्रिम पंजीकरण

इलेक्ट्रॉनिका 2024 में आगंतुकों के लिए
आप सभी साइन अप करते हैं! एक नियुक्ति करने के लिए धन्यवाद!
एक बार जब हम आपके आरक्षण को सत्यापित कर चुके हैं, तो हम आपको ईमेल द्वारा बूथ टिकट भेजेंगे।
घर > उत्पाद > एकीकृत सर्किट (आईसीएस) > तर्क - विशेषता लॉजिक > SN74BCT8374ANTG4
RFQs/आदेश (0)
हिंदी
हिंदी
6353102

SN74BCT8374ANTG4

कोट अनुरोध करें

कृपया अपनी संपर्क जानकारी के साथ सभी आवश्यक फ़ील्ड को पूरा करें। "RFQ सबमिट करें" हम आपको ईमेल द्वारा शीघ्र ही संपर्क करेंगे।या हमें ईमेल करें:info@ftcelectronics.com
जांच ऑनलाइन
विशेष विवरण
  • भाग संख्या
    SN74BCT8374ANTG4
  • निर्माता / ब्रांड
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • शेयर मात्रा
    स्टॉक में
  • विवरण
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्टेटस
    लीड फ्री / आरओएचएस के अनुरूप
  • वोल्टेज आपूर्ति
    4.5 V ~ 5.5 V
  • प्रदायक डिवाइस पैकेज
    24-PDIP
  • शृंखला
    74BCT
  • पैकेजिंग
    Tube
  • पैकेज / प्रकरण
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • दुसरे नाम
    SN74BCT8374ANTE4
    SN74BCT8374ANTE4-ND
  • परिचालन तापमान
    0°C ~ 70°C
  • बिट्स की संख्या
    8
  • माउन्टिंग का प्रकार
    Through Hole
  • नमी संवेदनशीलता स्तर (एमएसएल)
    1 (Unlimited)
  • तर्क के प्रकार
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्थिति
    Lead free / RoHS Compliant
  • विस्तृत विवरण
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
  • आधार भाग संख्या
    74BCT8374

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
शिपिंग
भुगतान
निम्नलिखित "SN74BCT8374ANTG4" संबंधित उत्पाद हैं।
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211GQLR

SN74CB3Q16211GQLR

विवरण: IC 24BIT FET BUS SW HI-BW 56-BGA

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211DGGR

SN74CB3Q16211DGGR

विवरण: IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16210DLR

SN74CB3Q16210DLR

विवरण: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16210DL

SN74CB3Q16210DL

विवरण: IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

विवरण: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211DGVR

SN74CB3Q16211DGVR

विवरण: IC SW BUS 24BIT FET 56-TVSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211DL

SN74CB3Q16211DL

विवरण: IC SWITCH BUS FET 24BIT 56-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211DLR

SN74CB3Q16211DLR

विवरण: IC SW BUS 24BIT FET 56-SSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16211ZQLR

SN74CB3Q16211ZQLR

विवरण: IC 24BIT FET BUS SWITCH LV 56BGA

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74CB3Q16210DGVR

SN74CB3Q16210DGVR

विवरण: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

विवरण: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

निर्माता: Luminary Micro / Texas Instruments
स्टॉक में
RFQ
एकमात्र सार्वजनिक खुले बाजार वितरक के रूप में, हमारे पास वैश्विक पहुंच, विनिर्माण उद्योग विशेषज्ञता और सिद्ध गुणवत्ता का एक अनूठा संयोजन है।इसके साथ, हम इलेक्ट्रॉनिक्स घटकों सोर्सिंग और इन्वेंट्री प्रबंधन के लिए अनुकूलित, एंड-टू-एंड सप्लाई चेन सॉल्यूशंस बना सकते हैं।
हमारे पर का पालन करें
नियम एवं शर्तेंउल्लंघन नीतिएक उद्धरण का अनुरोध करेंहमारे बारे मेंसंपर्क करेंस्थल मानचित्र

भाषा चुनिए

बाहर निकलने के लिए स्थान पर क्लिक करें

वर्तमान भाषा

अपना देश या क्षेत्र चुनें।